Moku:Pro多儀器并行模式-輕松構(gòu)建和配置您的測(cè)試臺(tái)
Moku:Pro最新發(fā)布多儀器并行模式,支持并行多通道可重構(gòu)儀器。第一次,用戶可以實(shí)現(xiàn)在芯片上運(yùn)行多個(gè)研究級(jí)儀器互聯(lián)。通過Moku:Pro 多儀器并行模式用戶可將儀器放置在四個(gè)虛擬“插槽"中,動(dòng)態(tài)添加或刪除 Moku:Pro 儀器到任何插槽。每個(gè)插槽都能夠連接至模擬輸入和輸出,讓您可以在單個(gè) Moku:Pro 上運(yùn)行整套儀器。在此模式下運(yùn)行的儀器可通過低延遲、實(shí)時(shí) 30 Gb/s 信號(hào)路徑相互連接以構(gòu)建復(fù)雜的信號(hào)處理流程。模擬輸入、模擬輸出和相鄰儀器的連接能夠?qū)崿F(xiàn)運(yùn)行時(shí)配置。結(jié)合 Moku 云編譯(即將發(fā)布)和多儀器并行模式,Moku:Pro 重新定義了測(cè)試和測(cè)量儀器的靈活性。
可配置儀器
任意波形發(fā)生器
頻率響應(yīng)分析儀
鎖相放大器
示波器
PID 控制器
頻譜分析儀
波形發(fā)生器
硬件亮點(diǎn)
卓yue的低頻噪聲性能:全輸入帶寬下的噪聲500 μV RM
板載高穩(wěn)定時(shí)鐘 0.3 ppm
輸入到輸出延遲 < 650 ns
典型應(yīng)用
自動(dòng)化測(cè)試序列
系統(tǒng)原型設(shè)計(jì)和仿真
閉環(huán)控制設(shè)計(jì)
光學(xué)計(jì)量學(xué)和光譜學(xué)
光學(xué)、成像和其他定制系統(tǒng)控制中心
量子計(jì)算
技術(shù)規(guī)格
四個(gè)模擬輸入通道
10位和18位ADC,具備隨頻率變化的信號(hào)混合功能
1.25 GSa/s 采樣率
輸入噪聲: 30 nV/√Hz @ 100 Hz
可選 300 MHz 或 600 MHz 模擬帶寬
AC 或 DC耦合,輸入阻抗:50Ω 或 1MΩ
輸入范圍:400 mVpp、4 Vpp 或 40 Vpp
四個(gè)模擬輸出通道
16位,1.25 GSa/s DACs
輸出2 Vpp 高達(dá) 500 MHz, 10 Vpp 高達(dá)100 MHz
應(yīng)用亮點(diǎn)
「生成任意調(diào)制的信號(hào)」
通過結(jié)合任意波形發(fā)生器與多個(gè)波形發(fā)生器,Moku:Pro能夠輸出高穩(wěn)定性的復(fù)雜波形。任意波形可以連接至波形發(fā)生器的輸入端作為調(diào)制源。頻率、相位和幅度調(diào)制也可以同時(shí)添加到信號(hào)中。這消除了查找表計(jì)算步驟并能更好的控制調(diào)制和輸出信號(hào)。示波器或頻譜分析儀可添加到其它插槽中測(cè)量信號(hào)。
「多諧波鎖相放大器」
Moku:Pro的多儀器并行模式能夠同時(shí)運(yùn)行高達(dá)四個(gè)鎖相放大器。每一個(gè)鎖相放大器能在基波、二次或更高次諧波進(jìn)行解調(diào)。測(cè)量出的 R/θ 或 X/Y 分量也可以在最終儀器插槽中的示波器中進(jìn)行比較或輸出至模擬輸出端口。
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