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全功能X射線顯微鏡

簡要描述:研究型X射線顯微鏡XROS MF30,使用具有比可見光短的波長的X射線作為探針,獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統(tǒng)也集成光學顯微鏡,X射線攝影,局部元素XRF微分析,元素mapping等功能。全功能X射線顯微鏡

  • 產(chǎn)品型號:XROS MF30
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2021-06-21
  • 訪  問  量:1525
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應用領域電子軟件高壓發(fā)生器

 全功能X射線顯微鏡

研究型X射線顯微鏡XROS MF30,使用具有比可見光短的波長的X射線作為探針,獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統(tǒng)也集成光學顯微鏡,X射線攝影,局部元素XRF微分析,元素mapping等功能。全功能X射線顯微鏡

 

全功能X射線顯微鏡特點:

微焦點X射線管

用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細管透鏡

一組基本的輻射濾波器

攝像機用于選擇分析區(qū)域

用于分析區(qū)域調(diào)查的光學數(shù)碼顯微鏡

光學顯微鏡軸線與x射線探針軸線相結合

工作距離的自動選擇系統(tǒng)

自動X、Y坐標取樣臺,用于分析區(qū)域的定位和掃描

分析單元沿Z軸的自動移動

射線檢查用探測器

用于局部XRF分析的硅漂移檢測器

用于分析輕元素的真空測量室

內(nèi)置的自動X光管水冷卻系統(tǒng)

 

 

軟件:

  • 高壓發(fā)生器

  • 采樣和波束定位

  • 真空

 

局部元素分析與元素填圖

  • 用一個經(jīng)認證的樣品進行校正

  • 一個校準曲線與幾個認證的樣品

  • 特征線能量和強度的測定

  • 定性半定量分析(基本參數(shù)法)

  • 從光譜庫中尋找類似物進行光譜比較

  • 用戶定義樣例區(qū)域的元素映射mapping

  • 光譜和映射結果存儲到數(shù)據(jù)文件

  • 對存儲的光譜進行比較,減法,歸一化

  • 在光學和射線圖像上疊加光譜映射圖像結果

  • 自動分析在用戶定義的點的樣本

 

X射線攝影

  • 數(shù)字亮度和對比度控制

  • 縮放

  • 測量圖像點間的距離

 

記錄和數(shù)據(jù)存儲
  • 在數(shù)據(jù)庫中存儲圖像

  • 保存測量結果并導出到其他Windows程序

  • 數(shù)字化圖像記錄到外部媒體

  • 圖像和協(xié)議打印

  1.  一組可更換輻射濾光片(12個)

  2. X射線管

  3. 內(nèi)置水冷系統(tǒng)

  4. 硅漂移探測器

  5. 回看攝像機

  6. 光學顯微鏡軸與微探針軸結合(銳度自動調(diào)節(jié))

  7. 光學顯微鏡(手動調(diào)整銳度)

  8. 樣品臺(XY位移,精度10um)

束源

微焦點X射線管: 
  • X射線管zui大電壓

45 kV
  • X射線管zui大功率

500 W
  • 陽極材料

Mo, other by request

用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細管透鏡

  • X射線光束直徑

 

30 - 1 000 μm

一組基本的光束濾波器

Zr, Ti, Mo, Ag, Al, Cu, Cl

 

光學研究

光學數(shù)字顯微鏡:

  • 大變焦

 

200х

 

樣品定位和mapping

用攝像機選擇分析區(qū)域

光學顯微鏡結合X射線探頭的軸線來控制分析區(qū)域

樣品和探針移動系統(tǒng): 
  • 工作距離自動選擇系統(tǒng)

  • 分析單元沿Z軸移動

Z軸定位精度12 μm
  • 一個自動階段的XY對象定位和掃描在一個用戶定義的樣本區(qū)域XY定位精度


10 μm
  • zui大掃描區(qū)域

150x150 mm
  • zui大樣品尺寸

300х210х100 mm
  • zui大樣品重量

1 kg

 

X射線熒光分析

局部元素分析用能量色散半導體探測器

  • 硅漂移探測器 (SDD)

 
  • 在Mn線上的探測器的能量分辨率

<150 eV
  • 光譜范圍

1 - 40 keV
  • zui大計數(shù)率

1 000 000 cps
  • 濃度范圍

from 1 ppm to 100%

 

 X射線攝影
 用于射線照相研究的通過樣本輻射傳輸?shù)狞c探測器(可選ccd探測器)

 

分析單元

電源 

230 V, 50 Hz

Size (W x D x H)

615 x 665 x 650 mm

Weight

85 kg

 

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