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光學視角檢測儀—近紅外光源測量

簡要描述:光學視角檢測儀—近紅外光源測量,低成本和緊湊的3D成像技術在人臉識別、機器視覺或激光雷達等各種應用領域的巨大發(fā)展,對近紅外光源的表征提出了新的要求。在任何情況下,為了獲得精確的三維圖像,必須對其所有角度孔徑范圍內的光源發(fā)射特性進行精確表征和快速測量。

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  • 更新時間:2022-04-12
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應用領域生物產業(yè),電子光學視角檢測儀近紅外光源測量

光學視角檢測儀—近紅外光源測量

低成本和緊湊的3D成像技術在人臉識別、機器視覺或激光雷達等各種應用領域的巨大發(fā)展,對近紅外光源的表征提出了新的要求。在任何情況下,為了獲得精確的三維圖像,必須對其所有角度孔徑范圍內的光源發(fā)射特性進行精確表征和快速測量。












光學視角測試儀VCProbe-NIR-STG是為近紅外中發(fā)光的DUT分析而優(yōu)化的。 光學視角測試儀VCProbe-NIR-STG的設計是為了精確測量泛光照明器件、立體成像、結構光照明器件的特性。  

光學視角測試儀VCProbe-NIR-STG是測量小孔徑近紅外源的理想工具,并為近紅外源如LED和激光器提供了一個有效的測量解決方案。

該系統(tǒng)可以在±70°視角錐內獲得完整的地圖,具有良好的角度分辨率,工作距離為4mm,允許非接觸式測量。

推薦用于2.5 mm初始光瞳發(fā)射器。

DXY +/- 1mm的重復誤差優(yōu)于1%的位置,便于在線定位。

光學視角檢測儀VCProbe-NIR-STG校準波長為940 nm,可用于研發(fā)和批量生產/質檢應用,實現(xiàn)高速和精確的測量。



光學視角測試儀VCProbe-NIR-DSD是專門為精確測量近紅外源的小孔徑而設計的。該系統(tǒng)可以測量激光雷達、閃光激光雷達、激光二極管和VCSEL等各種光源。

該系統(tǒng)具有非接觸式測量,在一次測量中,產生±32°的視角,提供了顯著的0.05°的角度分辨率。
這是一個為單個VCSEL優(yōu)化的系統(tǒng),工作距離為40mm。光學視角檢測儀VCProbe-NIR-DSD允許高速和精確的測量應用研發(fā)以及批量生產/質檢。

光學視角測試儀型號規(guī)格:

規(guī)格VCProbe-NIR-STGVCProbe-NIR-DSD
STG-1STG-2
波長絕對強度Calibrated at 940 nm(*)Calibrated at 850 nm - 905 nm -   940 nm
視場角入射角±70°±32°
方位角0-360°0-360°
工作距離\3.2 mm4 mm40 mm
性能光學分辨率0.05°0.03°
線性化數據\2801*2801   pixels
光闌尺寸樣本優(yōu)化\0.5mm / 1mm / 2.5mm
聚焦距離\100mm1000mm
精度輻射 (W/sr/m2)±2%±2%
功率(W)±1%±1%
節(jié)拍時間曝光時間300ms - 30 s300ms   - 30s
處理傳輸時間Less   than 1 sLess   than 1 s
可選近紅外發(fā)射體脈沖同步、速率和寬度測量
溫度穩(wěn)定的傳感器

光學視角檢測儀—近紅外光源測量


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